Polarisierende Technik

Fortschritte in der konfokalen Laser-Scanning-Mikroskopie

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Ob Silizium-Halbleiterherstellung, Korrosionsanalyse oder archäologische Untersuchungen: In immer mehr Anwendungsbereichen wird die Oberflächen-Metrologie zur Analyse der Topologie von Materialen verwendet. Diese Methode erfordert ein Mikroskop, mit dem sich selbst kleinste Details exakt und wiederholt darstellen lassen: ein konfokales Laser-Scanning-Mikroskop.

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Schlüsselwörter : imaging Laser-Scanning-Mikroskop LSM Materialanalyse Methode Mikroskopie Olympus

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