Agilent stellt 5110 ICP-OES mit synchronem vertikalem Dual View vor

  • Neues ICP-OES von Agilent Neues ICP-OES von Agilent

Mit dem neuen 5110 ICP-OES von Agilent müssen Anwender nur eine Messung je Probe durchführen. Bei konventionellen Dual View ICP-OES-Systemen wird eine Serie aufeinander folgender Messungen ausgeführt und vorher muss ausgewählt werden, welche Elemente im axialen und welche im radialen Modus gemessen werden sollen. Manche Systeme sind für die Messung niedriger und hoher Wellenlängen in beiden Modi mit zwei Spalten ausgestattet. Für jede Probe sind daher vier aufeinander folgende Messungen erforderlich, was den Probendurchsatz entsprechend verringert.

Die einzigartige DSC-Technologie (Dichroic Spectral Combiner) des 5110 SVDV ICP-OES ermöglicht es, sowohl die axiale als auch die radiale Emission in einer einzigen Messung zu erfassen. So erhalten Sie richtige und präzise Ergebnisse in kürzester Zeit. Das 5110 ICP-OES von Agilent mit synchronem vertikalem Dual View (SVDV) vereint Geschwindigkeit und Analyseleistung ohne Kompromisse.

Kompromisslose Geschwindigkeit

  • Die schnellste Analytik in der ICP-OES und damit weniger Argonverbrauch
  • Reduzieren Sie die Kosten pro Analyse und steigern Sie Ihre Produktivität um mehr als das Doppelte mit dem Advanced Valve System (AVS)
  • Messung aller Wellenlängen in einem Messvorgang ermöglicht höhere Präzision ohne Verzögerungen
  • Starten Sie Ihre Messungen schneller: der Vista Chip II-Detektor benötigt absolut kein Spülgas und bietet kürzere Aufwärmzeiten

Kompromisslose Leistung

  • Die schnellste Analytik in der ICP-OES und damit weniger Argonverbrauch
  • Reduzieren Sie die Kosten pro Analyse und steigern Sie Ihre Produktivität um mehr als das Doppelte mit dem Advanced Valve System (AVS)
  • Messung aller Wellenlängen in einem Messvorgang ermöglicht höhere Präzision ohne Verzögerungen
  • Starten Sie Ihre Messungen schneller: der Vista Chip II-Detektor benötigt absolut kein Spülgas und bietet kürzere Aufwärmzeiten
  • Kompromisslose Leistung
  • Mit der stehenden (vertikalen) Fackel lassen sich auch die schwierigsten Proben ganz einfach messen
  • Der Halbleitergenerator gewährleistet eine ausgezeichnete Langzeitstabilität
  • Kompromisslose Benutzerfreundlichkeit
  • Im IntelliQuant-Modus sehen Sie alle Elemente in Ihrer Probe auf einen Blick
  • Ersparen Sie sich das Rätselraten bei der Methodenentwicklung mithilfe der intuitiven ICP Expert-Software und der DSC-Technologie
  • Ein vollständig integriertes Schaltventil und das „Plug-and-Play“-Fackelsystem gewährleisten eine kurze Einarbeitung mit nur minimalem Anwendertraining
  • Maximieren Sie die Betriebsbereitschaft des Geräts mit intelligenter Diagnostik, welche die Fehlersuche einfach macht

 Flexible Konfigurationen - Das Agilent 5110 ist in drei Konfigurationen erhältlich:

  • Synchrones Vertikales Dual View
  • Vertikales Dual View
  • Radial View

Mit der stehenden (vertikalen) Fackel und dem robusten Halbleitergenerator in jeder Konfiguration ist das 5110 ICP-OES auch für die anspruchsvollsten Proben perfekt geeignet.

Informieren Sie sich noch heute wie auch Sie geringere Kosten je Probe ohne Kompromisse und mit optimaler Analysenqualität erzielen können. Alle Details finden Sie hier!

 

 

 

 

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