Mettler Toldeo erläutert Focused Beam Reflectance Measurement der nächsten Generation

Mettler Toledo präsentiert ein neues White Paper, das eine Reihe von Versuchen unter Einsatz der FBRM-Technologie (Focused Beam Reflectance Measurement) der nächsten Generation beschreibt. Diese Versuche illustrieren, wie die jüngsten Fortschritte bei der Erkennung der Sehnenlänge und Korrektur von Partikelanhaftungen der Technologie im Verbund mit einem verbesserten Dynamikbereich zu einem umfassenderen Verständnis von kritischen Prozessparametern für eine schnellere, präzisere Optimierung beitragen.

Die FBRM-Technologie wird seit 1986 zur Verfolgung von Änderungen der Partikelgrösse, -form und -anzahl in Prozessen verwendet. Unter bestimmten Bedingungen können die Ergebnisse jedoch schwierig zu interpretieren sein. Messungen der Sehnenlänge können durch die Oberflächenbeschaffenheit beeinflusst werden, sodass Sehnenlängen „aufspalten" und kleinere Partikelgrössen als tatsächlich vorhanden gemessen werden. Ähnlich können Partikel, die am auf dem optischen Sondenfenster anhaften, zu unerwarteten Peaks in den Verteilungskurven führen. Schliesslich kann bei hohen Prozesskonzentrationen die Linearität des Messsignals herabgesetzt sein. Diese Einschränkungen konnten in der Vergangenheit die Möglichkeit beeinträchtigen, Optimierungen gemäss kritischer Prozessparametern wie die Partikelgrösse durchzuführen.

Die FBRM G-Serie, zu der die Modelle G400 und G600 zählen, reduziert die Auswirkungen dieser Einschränkungen wie anhand von drei verschiedenen Versuchen aus der Praxis gezeigt erheblich.

Die Beschreibung des ersten Versuchs im Abschnitt „Höhere Auflösung und Genauigkeit für Fein- und Grobpartikel sowie bimodale Verteilungen" erläutert, wie präzise Informationen zur Sehnenlängenverteilung eine intuitivere Datenanalyse ermöglichen.

Der Abschnitt „Partikelanhaftungen auf dem Sondenfenster erkennen und korrigieren" beschreibt, wie die Korrektur um Partikel, die sich nicht bewegen oder verändern, die statistische Konsistenz verbessert. Fortschritte bei der Optik und Signalverarbeitung, die zu schmaleren und präziseren Messbereichen bei hohen Konzentrationen führen, werden im Abschnitt „Höhere Empfindlichkeit in konzentrierten Partikelsystemen" beschrieben.

Jeder dieser Versuche zeigt, wie die FBRM-Technologie der nächsten Generation die Auflösung, Genauigkeit und Empfindlichkeit verbessert und somit ein umfassenderes Verständnis von Inline-Partikelsystemen ermöglicht sowie die Prozessoptimierung beschleunigt.

Um sich detailliert die Versuche anzusehen oder ausführlichere Informationen darüber zu erhalten, wie die FBRM G-Serie einen Paradigmenwechsel bei der Inline-Partikelmessung einläutet.

Das kostenlose White Paper erhalten Sie unter www.mt.com/fbrmgseries.

 

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Mettler-Toledo GmbH
Ockerweg 3
35396 Giessen
Telefon: 0641/507-444
Telefax: 0641/507-127

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